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里博Leeb210涂層測(cè)厚儀
里博Leeb210涂層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
，采用磁性測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。
的技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | leeb210 | leeb211 | |
測(cè)頭類型 | F1(不可拔插) | N1(不可拔插) | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 0～1250μm | ||
低限分辨率 | 0.1μm | ||
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±(3%H+1) | |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1～3%)H+1] | ||
測(cè)試條件 | zui小曲率半徑 | 凸1.5mm | |
zui小面積直徑 | Φ7mm | ||
基本臨界厚度 | 0.5mm | ||
工作環(huán)境 | 溫度 | 0～40℃ | |
濕度 | 20～90% | ||
磁場(chǎng) | 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境 | ||
電源 | AAA型堿性電池兩節(jié) | ||
外形尺寸 | 主機(jī)115*70*30mm | ||
重量 | 152g | 195g | |
幾款leeb200系列涂層測(cè)厚儀的區(qū)別：
leeb210：塑殼，分體，無(wú)接口，F(xiàn)1型探頭。
leeb211：塑殼，分體，無(wú)接口，N1型探頭。
leeb220：塑殼，分體，F(xiàn)1型探頭。
leeb221：塑殼，分體，N1型探頭。
leeb222：塑殼，分體，標(biāo)配F1和N1探頭兩個(gè)探頭。
leeb230：金屬外殼，分體，F(xiàn)1型探頭。
leeb231：金屬外殼，分體，N1型探頭。
leeb232：金屬外殼，分體，標(biāo)配F1或N1探頭。
leeb25O：塑殼，一體機(jī)，F(xiàn)1探頭。
leeb251：塑殼，一體機(jī)，N1探頭。
leeb252：塑殼，一體機(jī)，雙用探頭。
leeb242：塑殼，分體，帶打印機(jī)，標(biāo)配F1或N1探頭。
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